ラドデバイスは、光がリードする先端テクノロジーと共に歩みます
ホーム
製品情報
ディテクター
InGaAs アバランシェフォトダイオード Φ0.2mm ODD-APD-001
X線用 フラットパネルディテクター Reveal™ 35C
X線用 a-Se CMOSカメラ BrillianSe™
高エネルギーX線用ハイパースペクトルカメラ HEXITEC
X線 高速フォトンカウンティングピクセル検出器 MerlinX
ポジションコントロールシステム PandABox
X線測定用読出制御 Xspress 3
X線用高分解能カメラ Xsight Micron ™
軟X線～UV領域用IRD Siフォトダイオード
X線/EUV用 PINフォトダイオード検出器 xPIN
フォトンタイムスタンピング用高速光学カメラ TPX3 Cam
オプティクス
ブレーズドグレーティング
X線・EUV用 多層膜コーティング/オプティクス
XUV・EUV領域用 薄膜フィルター
光源
ナノフォーカスX線源 Nano Tube N3
液体金属ジェットアノードX線源 MetalJet
セラミックス
酸化物セラミックス製品
セラミック研磨ツール
紫外〜近赤外／光計測
直接太陽スペクトル放射照度測定 BTS-Solar
DKD/PTB公認LED光測定器 BTS256-LED
その他の製品
抵抗加熱蒸着源
メーカーから探す
催事情報
会社案内
お問い合わせ
ディテクター
InGaAs アバランシェフォトダイオード Φ0.2mm ODD-APD-001
X線用 フラットパネルディテクター Reveal™ 35C
X線用 a-Se CMOSカメラ BrillianSe™
高エネルギーX線用ハイパースペクトルカメラ HEXITEC
X線 高速フォトンカウンティングピクセル検出器 MerlinX
ポジションコントロールシステム PandABox
X線測定用読出制御 Xspress 3
X線用高分解能カメラ Xsight Micron ™
軟X線～UV領域用IRD Siフォトダイオード
X線/EUV用 PINフォトダイオード検出器 xPIN
フォトンタイムスタンピング用高速光学カメラ TPX3 Cam
オプティクス
ブレーズドグレーティング
X線・EUV用 多層膜コーティング/オプティクス
XUV・EUV領域用 薄膜フィルター
光源
ナノフォーカスX線源 Nano Tube N3
液体金属ジェットアノードX線源 MetalJet
セラミックス
酸化物セラミックス製品
セラミック研磨ツール
紫外〜近赤外／光計測
直接太陽スペクトル放射照度測定 BTS-Solar
DKD/PTB公認LED光測定器 BTS256-LED
その他の製品
抵抗加熱蒸着源
メーカーから探す
ラドデバイス株式会社
製品情報
SXUVシリーズ
EUV用 高速応答 Siフォトダイオード SXUV20HS1
Responsivity_SXUV20HS1
←
EUV用 高速応答 Siフォトダイオード SXUV20HS1
Responsivity_SXUV20HS1
投稿者:
raddevice
|
公開日:
9月 18, 2025
|
フルサイズ:
1081 × 432
ピクセル
SXUV20HS1DS-300x300
パーマリンク
