Proto Manufacturing Ltd.
- WE KNOW DIFFRACTION - Proto Manufacturing (プロト・マニュファクチャリング)は1967年の創業以来、材料特性評価のための最先端機器の開発に取り組んできました。 ◆残留応力（residual stress）および残留オーステナイト（retained austenite）測定システム、 ◆粉末X線回折計（powder x-ray diffractometers）、◆単結晶回折計（single-crystal diffractometers）、◆ラウエ単結晶配向測定システム（Laue single-crystal orientation systems）、◆高解像度回折計（high-resolution diffractometers）、 ◆蛍光X線システム（x-ray fluorescence systems）、◆CTシステム（CT systems）、◆イメージングシステム（imaging systems）など、 様々なX線特性評価装置を提供しています。 さらに、お客様個々のニーズに合わせてX線管球からカスタム機器まで幅広く提供しています。30年以上にわたり、研究室、工場、そして現場環境に適した測定システム展開するとともに、ISO/IEC 17025:2017認定を受けた米国およびカナダの研究所では、訓練を受けた専門スタッフが測定サービスを提供しています。
Address：[USA] Proto Manufacturing Inc.: 12350 Universal Drive, Taylor, Michigan, 48180-4070
[CANADA] Proto Manufacturing Ltd.: 6150 Morton Industrial Parkway, LaSalle, Ontario, N9J 3W3
[EUROPE] Proto Manufacturing Europe Sp. z o.o.: ul. Ibn Siny Awicenny 14, Wrocław, Poland, 54-611
WEB：https://www.protoxrd.com/
粉末X線回折装置（粉末XRD）AXRDシリーズ｜卓上・高温・高分解能・ハイスループット
Proto Manufacturing社のAXRD®シリーズは、結晶相の同定、定量相分析、リートベルト解析、結晶化度、結晶子サイズ・微ひずみ、格子定数などを評価する粉末X線回折装置（粉末XRD／PXRD）です。粉末試料だけでなく、装置構成によりバルク多結晶、薄膜・コーティング、単結晶、温度・圧力・ガス雰囲気下のin situ／非大気測定にも対応します。
ラインアップは、省スペースで多目的に使えるAXRD Benchtop、大型試料や環境ステージに適した垂直θ–θ型AXRD Theta-Theta、高出力で光学系・試料ステージ・検出器を柔軟に交換できるAXRD LPD、薄膜・エピタキシャル材料向けの高分解能AXRD LPD-HR、96ウェルプレートによる自動スクリーニングに対応するAXRD LPD-HTの5シリーズです。
フォトンカウンティング検出器、XRDWIN® PD／PDAnalysis、COD・ICDDデータベース、加熱・冷却・真空・ガス・圧力セルを測定目的に合わせて構成できます。研究開発、品質管理、医薬品の結晶多形評価、電池・触媒・セラミックス・鉱物・薄膜材料の解析に向け、試料と必要な測定法から最適な装置構成をご提案します。
X線回折（XRD）残留応力測定システム｜据置・可搬・ロボット型
Proto Manufacturing社の残留応力測定システムは、X線回折（XRD）で結晶格子のひずみを測定し、金属・合金などの表面および表面近傍に存在する残留応力を評価する装置群です。広く利用されているsin²ψ法（sin2ψ法）の多重露光法（Multiple Exposure Technique：MET）を採用し、複数のψ傾斜角で取得した回折ピークから応力を解析します。2台の検出器を用いた正負のψ側のデータ取得により、通常応力に加えてせん断応力成分の評価にも利用できます。
ラインアップは、高出力の据置型LXRD®、ラボと現場を行き来できるモジュール式iXRD®、小型・可搬型のiXRD Mini™、複雑形状部品の自動測定に適した6軸ロボット型roboXRD™、配管・圧力容器・橋梁などの現場測定に適した超可搬型mXRD®の5シリーズです。測定対象の材質、部品寸法、測定箇所へのアクセス、必要な測定方向、マッピング範囲、処理能力に応じてシステムを選定できます。
溶接、ショットピーニング、熱処理、研削・切削、積層造形、疲労強度評価、工程管理などに加え、構成により残留応力マッピング、深さ方向プロファイル、残留オーステナイト、X線的弾性定数（XEC）、極点図などへ拡張可能です。装置選定、測定条件、価格、納期については、ラドデバイス株式会社までお問い合わせください。
