ラドデバイス|RAD Device

ラドデバイスは、光がリードする先端テクノロジーと共に歩みます

Amsterdam Scientific Instruments(ASI)社

電子顕微鏡用 超高速イベント読出型検出器 CheeTah

電子顕微鏡用 超高速イベント読出型検出器 CheeTah

製品特長

超高速なゼロ補正・イベント読出型検出器のCheeTahは、電子線照射に対してデリケートなサンプルであっても損傷を受ける前にデータを取得できる多用途な計測器です。最大1000倍のスキャンスピードと必要ストレージ量の低減により、数時間掛かっていた測定を数分に、更にはテラバイト単位のデータをギガバイト単位に圧縮し、すぐに分析に用いることが可能な、クリーンなデータを提供します。
4D-STEM、タイコグラフィ、時間分解EELS・UTEM、ダイナミック・時間相関実験などに完全な互換性があり、ビーム効率やサンプル保存性を最大化しつつ、先端材料科学やバイオイメージングなど、分野をまたいでハイスループットな研究を加速させます。センサー設定、データ読出しから堅牢なデータ転送技術まで、完全な制御によって、電子顕微鏡で観察可能な世界の限界を押し広げます。

仕様

 

チップ数 SINGLE QUAD LINEAR(1×4) ULTRA(2×4)
インターフェース 256 × 256 512 × 512 256 × 1024 512 × 1024
ピクセルサイズ 55 μm 55 μm 55 μm 55 μm
受光面積 14.08 × 14.08 mm² 28.16 × 28.16 mm² 14.08 × 56.32 mm² 28.16 × 56.32 mm²
最大スループット 80 Mhits/s 320 Mhits/s 320 Mhits/s 640 Mhits/s
時間分解能 ~1.56 ns
エネルギー計測方式 Time over Threshold (ToT)
読出方式 イベント読出し
カウンター深度 14-bit ToT / 18-bit ToA
冷却 空冷 / 液体冷却 (選択可能)
センサーオプション Si (選択可能) / GaAs
ASIC Timepix3
ピクセルピッチ 55 μm

TEM・超高速TEMにおけるアプリケーション

4D-STEM

ひずみ、配向、位相や電場マッピングなど、回折パターンを高速に取得

ナノビーム回折(NBD) & CBED

イベント読出しによる、高ダイナミックレンジでの鋭角回折ピークデータの取得

電子ビーム敏感なサンプルの低線量回折

疎性電子計数法 (Sparse electron counting) による、2次元材料、ソフトマター、およびハイブリッドペロブスカイトの分析

TEMダイナミック in-situ 観察

加熱、バイアス印加、機械的変形等、環境TEM実験でのリアルタイム観察

超高速TEM(UTEM)

ナノ秒スケールpump-probe実験: 電子パケットの個別タイムスタンピング

バンチビーム同期化

検出電子と、パルス電子源またはRF圧縮ビームとの相関性評価

時間分解回折

構造相転移と非平衡ダイナミクスの撮影


 

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