ラドデバイス|RAD Device

ラドデバイスは、光がリードする先端テクノロジーと共に歩みます

Opto Diode 社 (旧 International Radiation Detectors 社)

軟X線/EUV/VUV/電子検出用 AXUV Siフォトダイオードアレイ AXUV16ELG

軟X線/EUV/VUV/電子検出用 AXUV Siフォトダイオードアレイ AXUV16ELG

製品特長

Opto Diode社のAXUV16ELGは、X線、EUV、VUVおよび電子の検出を目的に設計された1次元Siフォトダイオードアレイです。1方向に16個のAXUVフォトダイオードを並べており、光や電子、イオンの1次元位置検出を行うことができます。AXUVのフォトダイオードアレイは0.124 nmから190 nmまでの短波長領域における高い感度によって、微弱光の光位置情報をリアルタイムで取得することができます。


仕 様

受光面積(per element) 10mm² (テスト時 2mm x 5mm)
電子・光子感度(Responsivity) 下記グラフを参照
逆バイアスブレークダウン電圧 (Typ) 25 (V)
シャント抵抗 (per element) (Min) 100 (MΩ)
キャパシタンス (Typ) 700 (pF)
(Max) 2000 (pF)
(逆バイアス電圧 0V時)
立ち上がり時間 (Typ) 500 (ns)
(逆バイアス電圧 0V時)

温度パラメーター

環境または状況 保管および動作温度範囲
大気 (Ambient) -10 ~ 40 ℃
窒素または真空 (Nitrogen または Vacuum) -20 ~ 80 ℃
端子はんだ付け温度 (Lead Soldering Temperature) 260℃

電子感度(Responsivity)

AXUV16ELGのResponsivity(A/W)グラフ画像(電子)

EUV-UV 光子感度(Responsivity)

AXUV16ELGのResponsivity(A/W)グラフ画像(EUV-UV)

UV-VIS-NIR 光子感度(Responsivity)

AXUV16ELGのResponsivity(A/W)グラフ画像(UV-VIS-NIR)

キャパシタンス(接合容量)の逆バイアス電圧依存性

AXUV16ELGのcapacitanceグラフ画像

暗電流の逆バイアス電圧依存性

AXUV16ELGの暗電流グラフ画像

パッケージ情報

寸法はインチ[mm]単位で表示されています。

AXUV16ELGのパッケージ詳細

PIN説明

PIN番号 接続 (Connection)
1, 2, 19, 20 Common Anode
21, 22, 39, 40 Common Anode
3, 38 Cathode Element 1
4, 37 Cathode Element 2
5, 36 Cathode Element 3
6, 35 Cathode Element 4
7, 34 Cathode Element 5
8, 33 Cathode Element 6
9, 32 Cathode Element 7
10, 31 Cathode Element 8
11, 30 Cathode Element 9
12, 29 Cathode Element 10
13, 28 Cathode Element 11
14, 27 Cathode Element 12
15, 26 Cathode Element 13
16, 25 Cathode Element 14
17, 24 Cathode Element 15
18, 23 Cathode Element 16

Opto Diode社HPのデータシートはこちら


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